Art

J-GLOBAL ID：200902145133855335   Reference number：99A0495876

A new 200kV Ω-filter electron microscope.

新しい200kVオームフィルタの電子顕微鏡

Author (7)： TANAKA M (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  TSUDA K (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  TERAUCHI M (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  TSUNO K (JEOL Ltd., Tokyo, JPN) ,  KANEYAMA T (JEOL Ltd., Tokyo, JPN) ,  HONDA T (JEOL Ltd., Tokyo, JPN) ,  ISHIDA M (JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
Material： Journal of Microscopy  (J Microsc)
Volume： 194  Issue： 1  Page： 219-227  Publication year： Apr. 1999 
JST Material Number： B0454B  ISSN： 0022-2720  Document type： Article
Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (2)： オーム ,  電子顕微鏡