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J-GLOBAL ID：200902149791807269   Reference number：00A0644346

First Fabrication of GaInAs/InP Buried Metal Heterojunction Bipolar Transistor and Reduction of Base-Collector Capacitance.

金属を埋め込んだGaInAs/InPヘテロ接合バイポーラトランジスタの初めての作製とベース-コレクタ容量の減少

Author (5)： ARAI T (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  HARADA Y (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  YAMAGAMI S (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  MIYAMOTO Y (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  FURUYA K (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters & Express Letters)
Volume： 39  Issue： 6A  Page： L503-L505  Publication year： Jun. 01, 2000 
JST Material Number： F0599B  ISSN： 0021-4922  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： interposition ,...
Semi thesaurus term： OMVPE

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JST classification (2)： Semiconductor-semiconductor contacts with Gr.13-15 element compounds  (BM03082Y) ,  Transistors  (NC03070N)

Reference (11)：

• 1) K. Kurishima: IEEE Trans. Electron Device 43 (1996) 2074.
• 2) P. M. Asbeck, D. L. Miller, R. J. Anderson and F. H. Eison: IEEE Electron Device Lett. EDL-5 (1984) 310.
• 3) Y. Miyamoto, J. M. M. Rios, A. G. Dentai and S. Chandrasekhar: IEEE Electron Device Lett. 17 (1996) 97.
• 4) M. R. Frei, J. R. Hayes, J.-I. Song, H. M. Cox and C. Caneau: Appl. Phys. Lett. 61 (1992) 1193.
• 5) U. Bhattacharya, M. J. Mondry, G. Hurts, I.-H. Tan, R. Pullela, M. Reddy, J. Guthrie, M. J. W. Rodwell and J. E. Bowers: IEEE Electron Device Lett. 16 (1995) 357.

Terms in the title (5)： GaInAs ,  InP ,  ヘテロ接合バイポーラトランジスタ ,  作製 ,  コレクタ