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J-GLOBAL ID：200902156550202931   Reference number：01A0039801

An Antifuse EPROM Circuitry Scheme for Field-Programmable Repair in DRAM.

DRAMのフィールドプログラマブル補修用アンチフューズEPROM回路設計

Author (7)： WEE J-K (Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR) ,  YANG W (Harvard Univ., MA, USA) ,  RYOU E-K (Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR) ,  CHOI J-S (Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR) ,  AHN S-H (Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR) ,  CHUNG J-Y (Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR) ,  KIM S-C (Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR)
Material： IEEE Journal of Solid-State Circuits  (IEEE J Solid-State Circuits)
Volume： 35  Issue： 10  Page： 1408-1414  Publication year： Oct. 2000 
JST Material Number： B0761A  ISSN： 0018-9200  CODEN： IJSCBC  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *EPROM ,...
Semi thesaurus term： アンチフューズ回路 ,...

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JST classification (2)： General  (NC03161C) ,  Memory systems  (JC02040V)

Terms in the title (6)： DRAM ,  フィールド ,  補修 ,  フューズ ,  EPROM ,  回路設計