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J-GLOBAL ID：200902165325005816   Reference number：94A0751788

Lower Limit of Quantification iwht X-ray Fluorescence Analysis.

特集 極微量分析の現状と定量下限 蛍光X線分析法

Author (1)： GOUSHI YOICHI (東大 工)
Material： まてりあ  (Materia Japan)
Volume： 33  Issue： 4  Page： 368-373  Publication year： Apr. 1994 
JST Material Number： F0163A  ISSN： 1340-2625  CODEN： MTERE2  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： microanalysis ,...
Semi thesaurus term： 極微量分析

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JST classification (2)： Physical analysis of metals and alloys  (CC03040V) ,  Spectroanalysis  (CC03012W)

Reference (3)：

• (1) E. P. Bertin: Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis, 2nd ed. Plenum Press,(1975), p.153.
• (3) 大橋一隆博士論文 (1994).
• (4) 薬師寺健次, 大川真司: X線分析の進歩, 24巻, アグネ,(1993), p.97.

Terms in the title (4)： 微量分析 ,  現状 ,  定量下限 ,  蛍光X線分析法