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J-GLOBAL ID：200902169032004284   Reference number：01A0265881

Stability and Phase Noise Tests of Two Cryo-Cooled Sapphire Oscillators.

二つの低温冷却したサファイア発振器の安定性と位相雑音試験

Author (2)： DICK G J (California Inst. Technol., CA) ,  WANG R T (California Inst. Technol., CA)
Material： IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control  (IEEE Trans Ultrason Ferroelectr Freq Control)
Volume： 47  Issue： 5  Page： 1098-1101  Publication year： Sep. 2000 
JST Material Number： H0369A  ISSN： 0885-3010  CODEN： ITUCER  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *oscillator ,...

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JST classification (3)： Oscillation circuits  (NC05020Y) ,  Measuring methods and instruments of waveform,frequency,wavelength,phase  (AD07040Y) ,  Cryogenic devices  (AD06053B)

Terms in the title (6)： 低温 ,  サファイア ,  発振器 ,  安定性 ,  位相雑音 ,  試験