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J-GLOBAL ID：200902177094727102   Reference number：02A0521530

Charge Storage Effect in the Microwave Detected Photoconductive Decay Method.

マイクロ波によって検出する光伝導減衰法における電荷蓄積の効果

Author (2)： MUNAKATA C (Tohoku Inst. Technol., Sendai, JPN) ,  WATANABE K (Hitachi Ltd., Tokyo, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Brief Communications & Review Papers)
Volume： 41  Issue： 5A  Page： 2796-2800  Publication year： May. 15, 2002 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *photoconductivity ,...

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JST classification (2)： Photoconduction,photoelectromotive force  (BM03050J) ,  Metal-insulator-semiconductor structures  (BM03085X)

Reference (23)：

• 1) N. Honma, C. Munakata and H. Shimizu: Jpn. J. Appl. Phys. 27 (1988) 1322.
• 2) H. Shimizu, N. Honma and C. Munakata: Jpn. J. Appl. Phys. 28 (1989) 743.
• 3) K. Watanabe: Semicond. Sci. Technol. 11 (1996) 1713.
• 4) D. T. Stevenson and R. J. Keyes: J. Appl. Phys. 26 (1955) 190.
• 5) J. W. Orton and P. Blood: The Electrical Characterization of Semiconductors: Measurement of Minority Carrier Properties (Academic Press, London, 1990) Chap. 4.

Terms in the title (4)： マイクロ波 ,  光伝導 ,  減衰 ,  電荷蓄積