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J-GLOBAL ID：200902178660262321   Reference number：00A0304860

Improvement of Measuring Equipment Using Pattern Projection Method for Small Hole Diameter. 1st Report. Theoretical Analysis for Parallel Plate Specimen.

パターン投影方式小径穴測定装置の性能向上 1 平行平板試料の場合の理論解析

Author (7)： AKIYAMA NOBUYUKI (長岡技科大) ,  YOSHIDA MASAHIRO (長岡技科大) ,  LIANGPANICH E (長岡技科大 大学院) ,  ISHIDA SHUGO (長岡技科大 大学院) ,  KUWABARA KAZUTOSHI (第一測範製作所) ,  TAKEISHI TETSUYA (第一測範製作所) ,  FUJIMOTO EISUKE (第一測範製作所)
Material： 精密工学会誌  (Journal of the Japan Society for Precision Engineering)
Volume： 66  Issue： 3  Page： 463-467  Publication year： Mar. 05, 2000 
JST Material Number： F0268A  ISSN： 0912-0289  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *inner diameter ,...
Semi thesaurus term： small hole

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JST classification (2)： Measuring methods and instruments of length,area,cross section,volume,angle  (AD05020O) ,  Other optical instruments and techniques  (BD07080R)

Reference (5)：

• 1) (株)第一測範カタログ:小径内径測定器(光学式)IDM.
• 2) ライツ社カタログ:万能コンパレータ200.
• 3) 丸山六男,尾板一,小野道彦,賀勢晋司:光学的方法による小穴内径測定装置の開発,精密工学会誌,62,1(1996)145.
• 4) 秋山伸幸,北野哲彦,吉田昌弘,藤本頴助,幸平博喜,福島忠男:微小径深穴用光学式内径測定装置の開発,精密工学会誌,62,4(1996)584.
• 5)例えば村田和美:光学,サイエンス社,(1993)85.

Terms in the title (7)： 投影 ,  小径 ,  測定装置 ,  性能向上 ,  平行平板 ,  試料 ,  理論解析