Art

J-GLOBAL ID：200902179494609454   Reference number：00A0058835

Subwavelength-sized phase-change recording with a silicon planar apertured probe.

シリコン平面開口プローブを用いたサブ波長サイズの相変化記録

Author (5)： YATSUI T (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  KOUROGI M (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  TSUTSUI K (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  TAKAHASHI J (Ricoh Co., Ltd., Kanagawa, JPN) ,  OHTSU M (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
Material： Proceedings of SPIE  (Proceedings. SPIE - The International Society for Optical Engineering)
Volume： 3791  Page： 76-84  Publication year： 1999 
JST Material Number： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  Document type： Proceedings
Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (5)： シリコン ,  プローブ ,  サブ波長 ,  サイズ ,  相変化