Art

J-GLOBAL ID：200902180646637546   Reference number：97A0764502

The phase spectrum-based measurement of the TEM parameters.

Author (3)： ICHISE N (Kogakuin Univ., Tokyo, JPN) ,  BABA N (Kogakuin Univ., Tokyo, JPN) ,  NAGASHIMA H (Kogakuin Univ., Tokyo, JPN)
Material： Ultramicroscopy
Volume： 68  Issue： 3  Page： 181-200  Publication year： Jul. 1997 
JST Material Number： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  Document type： Article
Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (1)： TEM