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J-GLOBAL ID：200902185620548202   Reference number：00A0492434

Development of Surface State Evaluation Method by High Precision Photo-Reflectance Spectrum Measurement.

高精度のフォトリフレクタンススペクトル測定によって表面状態を評価する方法の開発

Author (7)： INAGAKI K (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  FUJIMOTO Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  SUGIYAMA K (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  ENDO K (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  YAMAUCHI K (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  HIROSE K (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MORI Y (Osaka Univ., Osaka, JPN)
Material： Technology Reports of the Osaka University  (大阪大学工学報告)
Volume： 50  Issue： 2366/2377  Page： 49-54  Publication year： Apr. 15, 2000 
JST Material Number： G0635A  ISSN： 0030-6177  CODEN： TROUA  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *photoreflectance ,...

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JST classification (2)： Electronic structure of surfaces  (BM02080J) ,  Other optical effects  (BM08040H)

Terms in the title (4)： フォトリフレクタンス ,  スペクトル測定 ,  評価 ,  開発