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J-GLOBAL ID：200902185700674306   Reference number：99A0104118

Two-Dimensional Birefringence Distribution Measurement Using Phase Shifting Technique.

最近の2次元複屈折計測法と応用 位相シフト法による2次元複屈折測定

Author (2)： OTANI YUKITOSHI (東京農工大 工) ,  YOSHIZAWA TOORU (東京農工大 工)
Material： 光学  (Japanese Journal of Optics)
Volume： 27  Issue： 12  Page： 698-703  Publication year： Dec. 1998 
JST Material Number： G0125B  ISSN： 0389-6625  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *birefringence ,...

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JST classification (1)： Polarimetry and polarimeters  (BD07050K)

Reference (36)：

• YOSHIZAWA, T. ed. International Symposium on Polarization and Applications to Device Technology. Proc. SPIE. 1996, 2873
• AZZAM, R. M. A. Ellipsometry and Polarized Light. 1987
• COLLETT, E. Polarized Light. 1993
• NAKADATE, S. High precision retardance measurement using phase detection of Young's fringes. Appl. Opt. 1990, 29, 242-246
• 持田悦宏. 位相変調による複屈折測定と応用. 光技術コンタクト. 1989, 27, 127-134

Terms in the title (5)： 2次元 ,  複屈折 ,  計測法 ,  応用 ,  位相シフト