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J-GLOBAL ID：200902200659978068   Reference number：08A0372264

Applications of Atomic Force Microscopy to Surface Investigations in Liquids

「表面界面のナノ力学」溶液環境における原子間力顕微鏡による表面計測

Author (1)： YAMADA HIROFUMI (京大)
Material： 表面科学  (JSSSJ)
Volume： 29  Issue： 4  Page： 221-228  Publication year： Apr. 10, 2008 
JST Material Number： F0940B  ISSN： 0388-5321  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *atomic force microscope ,  frequency modulation ,  cantilever beam ,  Q-value ,  coefficient of viscosity ,  electric double layer ,  surface structure ,  *aqueous solution ,  muscovite ,  bacteriorhodopsin

JST classification (3)： Surface structure of solids in general  (BK15010E) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Physical analysis in general  (CC03011F)

Reference (14)：

• 1) “Non-Contact Atomic Force Microscopy”, ed. by S. Morita and R. Wiesendanger (Springer, Berlin, 2002).
• 2) 山田啓文:表面科学 28, 253 (2007).
• 3) T. Eguchi, Y. Fujikawa, K. Akiyama, T. An, M. Ono, T. Hashimoto, Y. Morikawa, K. Terakura, T. Sakurai, M.G. Lagally and Y. Hasegawa: Phys. Rev. Lett. 93, 266102 (2004).
• 4) Y. Sugimoto, M. Abe, S. Hirayama, N. Oyabu, Ó. Custance and S. Morita: Nature Materials 4, 156 (2005).
• 5) T. Fukuma, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada: Appl. Phys. Lett. 86, 193108-1 (2005).

Terms in the title (6)： 界面 ,  ナノ力学 ,  溶液 ,  環境 ,  原子間力顕微鏡 ,  表面計測