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J-GLOBAL ID：200902278208761242   Reference number：07A0462235

Investigations of Organic Materials by Kelvin Probe Force Microscopy using Frequency Modulation Method

「有機半導体デバイスと表面・界面:デバイス技術と物性評価法の進展」周波数変調型ケルビンプローブ原子間力顕微鏡による有機薄膜評価

Author (1)： YAMADA HIROFUMI (京大)
Material： 表面科学  (JSSSJ)
Volume： 28  Issue： 5  Page： 253-263  Publication year： May. 10, 2007 
JST Material Number： F0940B  ISSN： 0388-5321  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： microscopy ,...
Semi thesaurus term： Kelvin probe force microscope ,...

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JST classification (2)： Electronic structure of surfaces  (BM02080J) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (33)：

• 1) Lord Kelvin: Philos. Mag. 46 (82), (1898).
• 2) M. Nonnenmacher, M.P.O' Boyle and H.K. Wickramasinghe: Appl. Phys. Lett. 58, 2921 (1991).
• 3) F.J. Giessibl: Science 267, 68 (1995).
• 4) H. Yamada: “Non-Contact Atomic Force Microscopy”, ed. by S. Morita and R. Wiesendanger (Springer, 2002) pp. 193-212.
• 5) 山田啓文:表面科学 23, 36 (2002).

Terms in the title (9)： 有機半導体デバイス ,  界面 ,  物性評価 ,  進展 ,  周波数変調 ,  ケルビンプローブ ,  原子間力顕微鏡 ,  有機薄膜 ,  評価