Art

J-GLOBAL ID：200902201195508477   Reference number：07A0545854

Ellipsometric Characterization on Multi-Layered Thin Film Systems during Hydrogenation

水素化の際の多層薄膜系についての偏光解析法キャラクタリゼーション

Author (3)： SANTJOJO D. J. (Universitas Brawijaya Malang, Jl. Veteran Malang, IDN) ,  AIZAWA Tatsuhiko (Univ. Toronto, Ontario, CAN) ,  MURAISHI S. (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
Material： Materials Transactions  (Mater Trans)
Volume： 48  Issue： 6  Page： 1380-1386  Publication year： Jun. 01, 2007 
JST Material Number： G0668A  ISSN： 1345-9678  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *yttrium oxide ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=07A0545854&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0668A") }}

JST classification (1)： Thin films of other inorganic compounds  (BK14060A)

Reference (23)：

• 1) J. N. Huiberts, J. H. Rector, R. J. Wijngaarden, S. Jetten, D. deGroot, B. Dam, N. J. Koeman, R. Griessen, B. Hjorvarsson, S. Olafsson and Y. S. Cho: J. Alloys Compounds. 239 (1996) 158–171.
• 2) S. J. van der Molen, J. W. J. Kerssemakers, J. H. Rector, N. J. Koeman, B. Dam and R. Giessen: J. Appl. Phys. 86 (1999) 6107–6119.
• 3) R. Giessen, J. N. Huiberts, M. Kremers, A. T. M. van Gogh, N. J. Koeman, J. P. Dekker and P. H. L. Notten: J. Alloys Compounds. 253 (1997) 44–50.
• 4) E. S. Kooij, A. T. M. van Gogh, D. G. Nagengast, N. J. Koeman and R. Giessen: Phys. Rev. B 62 (2000) 10088–10100.
• 5) A. Remhof, J. W. J. Kerssemakers, S. J. van der Molen, R. Giessen and E. S. Kooji: Phys. Rev. B 65 (2002) 054110.

Terms in the title (4)： 水素化 ,  多層薄膜 ,  偏光解析法 ,  キャラクタリゼーション