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J-GLOBAL ID：200902203535764433   Reference number：06A0530619

Bond Fluctuation of S/Se Anchoring Observed in Single-Molecule Conductance Measurements using the Point Contact Method with Scanning Tunneling Microscopy

走査型トンネル顕微鏡を用いる点接触法による単一分子の伝導率で観測されたS/Seアンカリングの結合ゆらぎ

Author (8)： YASUDA Satoshi ,  YOSHIDA Shoji ,  SASAKI Jiro ,  OKUTSU Yoshitaka ,  NAKAMURA Tohru (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN) ,  TANINAKA Atsushi ,  TAKEUCHI Osamu ,  SHIGEKAWA Hidemi
Material： Journal of the American Chemical Society  (J Am Chem Soc)
Volume： 128  Issue： 24  Page： 7746-7747  Publication year： Jun. 21, 2006 
JST Material Number： C0254A  ISSN： 0002-7863  CODEN： JACSAT  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *scanning tunneling microscope ,...
Semi thesaurus term： selenite ,...

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JST classification (2)： Electric conduction in organic compounds  (BM03045F) ,  Experimental research on molecular structure and properties  (CB01020I)

Substance index (3)： 1-Octanethiol ,  5,5′′-Bis(acetylthio)-2,2′:5′,2′′-terthiophene ,  5,5′′-Bis(acetylseleno)-2,2′:5′,2′′-terthiophene

Terms in the title (8)： 走査型トンネル顕微鏡 ,  点接触 ,  単一分子 ,  伝導率 ,  観測 ,  Se ,  アンカリング ,  ゆらぎ