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J-GLOBAL ID：200902203539557890   Reference number：07A0434072

Dynamic electrochemical-etching technique for tungsten tips suitable for multi-tip scanning tunneling microscopes

多重チップ走査型トンネル顕微鏡に適当なタングステンチップのためのダイナミックな電気化学エッチング法

Author (4)： HOBARA Rei (Dep. of Physics, School of Sci., The Univ. of Tokyo, JPN) ,  YOSHIMOTO Shinya (Dep. of Physics, School of Sci., The Univ. of Tokyo, JPN) ,  HASEGAWA Shuji (Dep. of Physics, School of Sci., The Univ. of Tokyo, JPN) ,  SAKAMOTO Katsuyoshi (Dep. of Electronic Engineering, The Univ. of Electro-Communications, JPN)
Material： e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)  (表面科学とナノテクノロジー)
Volume： 5  Page： 94-98 (J-STAGE)  Publication year： 2007 
JST Material Number： U0016A  ISSN： 1348-0391  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *scanning tunneling microscope ,...

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JST classification (1)： Techniques for samples  (BA02070O)

Reference (106)：

• [1] E. W. Müller, Z. Phys. 106, 132 (1937).
• [2] G. Binnig, H. Rohrer, Helv. Phys. Acta 55, 726 (1982).
• [3] G. Binnig, C. F. Quate, and C. Gerber, Phys. Rev. Lett. 56, 930 (1986).
• [4] Y. Martin and H.K. Wickramasinghe, Appl. Phys. Lett. 50 1455 (1987).
• [5] C. M. Mate, G. M. McClelland, R. Erlandsson, and S. Chiang, Phys. Rev. Lett. 59, 1942 (1987).

Terms in the title (4)： 多重 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  タングステン ,  電気化学エッチング