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J-GLOBAL ID：200902206343833775   Reference number：04A0548398

Transport Properties of Cu Point Contact between Scanning Tunneling Microscope Tip and Surface

走査トンネル顕微鏡探針と表面間に形成される銅ポイントコンタクトの伝導性

Author (4)： NAKANISHI HIROSHI (大阪大 大学院工学研究科) ,  KISHI TOMOYA (大阪大 大学院工学研究科) ,  KASAI HIDEAKI (大阪大 大学院工学研究科) ,  KOMORI FUMIO (東大 物性研)
Material： 真空  (Journal of the Vacuum Society of Japan)
Volume： 47  Issue： 6  Page： 467-469  Publication year： Jun. 20, 2004 
JST Material Number： G0194A  ISSN： 0559-8516  CODEN： SHINA  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *scanning tunneling microscope ,...

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JST classification (2)： Electrical properties of interfaces in general  (BM03081H) ,  Other contacts  (BM03088W)

Reference (17)：

• AGRAIT, N. Phys. Rep. 2003, 377, 81
• KASAI, H. Surf. Sci. 1996, 363, 428
• KAWAHITO, Y. Surf. Sci. 1998, 409, L709
• KAWAHITO, Y. J. Appl. Phys. 1999, 85, 947
• 笠井秀明. 生産と技術. 1999, 51, 57

Terms in the title (5)： 走査トンネル顕微鏡 ,  探針 ,  銅 ,  ポイント ,  コンタクト