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J-GLOBAL ID：200902212271260848   Reference number：03A0528091

Noninvasive CMOS circuit testing with NbN superconducting single-photon detectors

NbN超伝導単一フォトン検出器を用いた,非侵襲性CMOS回路テスト方法

Author (9)： ZHANG J (Univ. Rochester, NY, USA) ,  BOIADJIEVA N (NPTest Inc., CA, USA) ,  CHULKOVA G (Moscow State Pedagogical Univ., Moscow, RUS) ,  DESLANDES H (NPTest Inc., CA, USA) ,  GOL'TSMAN G N (Moscow State Pedagogical Univ., Moscow, RUS) ,  KORNEEV A (Moscow State Pedagogical Univ., Moscow, RUS) ,  LEIBOWITZ M (NPTest Inc., CA, USA) ,  PEARLMAN A (Univ. Rochester, NY, USA) ,  SOBOLEWSKI R (Univ. Rochester, NY, USA)
Material： Electronics Letters  (Electron Lett)
Volume： 39  Issue： 14  Page： 1086-1088  Publication year： Jul. 10, 2003 
JST Material Number： A0887A  ISSN： 0013-5194  CODEN： ELLEAK  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： VLSI ,...

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JST classification (1)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Terms in the title (7)： NbN ,  超伝導 ,  フォトン ,  検出器 ,  非侵襲性 ,  CMOS回路 ,  テスト方法