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J-GLOBAL ID：200902212595857120   Reference number：05A0990825

Electrical delay technique in the picosecond thermoreflectance method for thermophysical property measurements of thin films

薄膜の熱物理特性測定用ピコ秒サーモリフレクタンス法における電気的遅延技術

Author (3)： TAKETOSHI Naoyuki (National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono ...) ,  BABA Tetsuya (National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono ...) ,  ONO Akira (National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono ...)
Material： Review of Scientific Instruments  (Rev Sci Instrum)
Volume： 76  Issue： 9  Page： 094903-094903-8  Publication year： Sep. 2005 
JST Material Number： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *heat reflectivity ,...
Semi thesaurus term： thermoreflectance

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JST classification (2)： Thermal properties of condensed matter in general  (BL05010C) ,  Optical instruments and techniques in general  (BD07010S)

Terms in the title (5)： 薄膜 ,  物理特性 ,  ピコ秒 ,  サーモリフレクタンス法 ,  遅延