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J-GLOBAL ID：200902212747719887   Reference number：06A0611045

High-Contrast Imaging of Nano-Channels Using Reflection Near-Field Scanning Optical Microscope Enhanced by Optical Interference

光干渉により増強された反射近接場走査型光学顕微鏡を用いたナノチャンネルの高コントラストイメージング

Author (8)： SAKAI Masaru (Kanagawa Acad. Sci. and Technol.(KAST), Kawasaki, JPN) ,  MONONOBE Shuji (Kanagawa Acad. Sci. and Technol.(KAST), Kawasaki, JPN) ,  AKIBA Shusaku (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  MATSUDA Akifumi (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  HARA Wakana (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  YOSHIMOTO Mamoru (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  SAIKI Toshiharu (Kanagawa Acad. Sci. and Technol.(KAST), Kawasaki, JPN) ,  SAIKI Toshiharu (Keio Univ., Yokohama, JPN)
Material： Optical Review  (Opt Rev)
Volume： 13  Issue： 4  Page： 266-268  Publication year： Aug. 01, 2006 
JST Material Number： L2272A  ISSN： 1340-6000  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *optical microscopy ,...
Semi thesaurus term： *scanning optical microscope

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JST classification (1)： Optical instruments and techniques in general  (BD07010S)

Reference (11)：

• MATSUDA, K. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 177401
• HOSAKA, N. J. Microsc. 2001, 202, 362
• SAIKI, T. Tech. Dig. 6th Int. Conf. Near-Field Optics and Related Techniques (NFO-6), Univ. of Twente, Netherlands, 2000. 2000, 122
• SAIKI, T. JSAP Int. 2002, 5, 22
• SAKAI, M. Nanotechnology. 2004, 15, S362

Terms in the title (7)： 光干渉 ,  増強 ,  近接場 ,  走査型光学顕微鏡 ,  ナノチャンネル ,  高コントラスト ,  イメージング