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J-GLOBAL ID：200902226184171392   Reference number：03A0583512

Electronic Density of State of Mn-N Thin Films Measured by XPS

Mn-N化合物薄膜の電子状態密度のXPS測定

Author (2)： MORIO KAZUMASA (東海大 大学院工学研究科) ,  KOIZUMI YOSHIHARU (東海大 大学院工学研究科)
Material： 表面科学  (JSSSJ)
Volume： 24  Issue： 8  Page： 480-484  Publication year： Aug. 10, 2003 
JST Material Number： F0940B  ISSN： 0388-5321  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *manganese compound ,...

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JST classification (3)： Thin films of other inorganic compounds  (BK14060A) ,  Electronic structure of crystalline semiconductors  (BM02060N) ,  Salts  (CD01050V)

Reference (18)：

• HIRAYAMA, H. Mater. Res. Soc. Proc. 2000, 639, G.2.8
• NAKAMURA, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1997, 36, L1059
• OHNO, H. Science. 1998, 281, 951
• OHNO, Y. Nature. 1999, 402, 780
• GUILLAUD, C. P. Revs. Modern Phys. 1953, 25, 119

Terms in the title (4)： Mn ,  化合物薄膜 ,  電子状態密度 ,  XPS