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J-GLOBAL ID：200902231361751586   Reference number：04A0039144

Compensation of cross talk in the optical lever deflection method used in atomic force microscopy

原子間力顕微鏡に用いた光学レバー偏向法における漏話の補償

Author (2)： FUJISAWA S (National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN) ,  OGISO H (National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
Material： Review of Scientific Instruments  (Rev Sci Instrum)
Volume： 74  Issue： 12  Page： 5115-5117  Publication year： Dec. 2003 
JST Material Number： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *atomic force microscope ,...

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JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (6)： 原子間力顕微鏡 ,  光学 ,  レバー ,  偏向 ,  漏話 ,  補償