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J-GLOBAL ID：200902237532643831   Reference number：06A0705584

Enhancement of Secondary Ion Intensities from Polymers in the TOF-SIMS Analysis using Gold Cluster Ions

Auクラスター一次イオン源を用いたTOF-SIMS測定における二次イオン強度増大効果

Author (6)： KUDO MASAHIRO (成けい大 理工) ,  AIMOTO KEN'ICHI (成けい大 理工) ,  KATO NOBUHIKO (成けい大 理工) ,  AOYAGI SATOKA (島根大 生物資源科学) ,  IIDA NORIKO (アルバックファイ) ,  YAMAMOTO AKIRA (アルバックファイ)
Material： 表面科学  (JSSSJ)
Volume： 27  Issue： 9  Page： 518-522  Publication year： Sep. 10, 2006 
JST Material Number： F0940B  ISSN： 0388-5321  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *secondary ion mass spectrometry ,...
Semi thesaurus term： TOF-SIMS

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JST classification (1)： Physical analysis of organic compounds  (CC03034A)

Reference (9)：

• KOTTER, F. Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS-XI). 1998, XI, 459
• KOTTER, F. Appl. Surf. Sci. 1998, 133, 47
• HAGENHOFF, B. Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS-XI). 1998, XI, 585
• GILLEN, G. Appl. Surf. Sci. 2003, 203/204, 209
• KOLLMER, F. Appl. Surf. Sci. 2004, 231/232, 153

Terms in the title (6)： Au ,  クラスター ,  イオン源 ,  TOF-SIMS ,  二次イオン ,  強度増大