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J-GLOBAL ID：200902239974643019   Reference number：04A0683174

Measurement and Correction of Diagnostic X-ray Spectra Using a High Resolution Schottky CdTe Detector

高分解能Schottky CdTe検出器を用いた診断領域X線スペクトルの測定とその補正

Author (4)： MAEDA KOJI (広島国際大 保健医療) ,  MATSUMOTO MASAO (大阪大 大学院医学系研究科 保健学専攻) ,  TANIGUCHI AKIRA (東洋メディック) ,  KANAMORI HITOSHI (京都工繊大)
Material： 医学物理  (日本医学物理学会機関誌)
Volume： 24  Issue： 2  Page： 49-60  Publication year： Jun. 30, 2004 
JST Material Number： X0867A  ISSN： 1345-5354  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray spectrum ,...
Semi thesaurus term： RTD回路

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JST classification (1)： Basic radiology  (GC04012H)

Reference (15)：

• 1) Miyajima S, Imagawa K and Matsumoto M: Cdnte detectors in diagno stic x-ray spectroscopy. Med. Phys. 29: 1421-1429, 2002
• 2) Miyajima S, Sakuragi H and Matsumoto M: Extraction of mean free path of charge carriers in Cdznte crystals from full energy peaks. Nucl. Instr. Meth. A48 5: ST. 1-528 2002
• 3)宮島悟史, 今川康太郎, 松本政雄: Cdznte半導体検出器を用いて測定した診断領域X線スペクトルの補正(2). 医用画像情報学会雑誌19: 58-68, 2002
• 4) Takahashi T, Mitani T, Kobayashi Y et al.: High Resolution Schottky Cdte Diod e Detector. IEEE Transaction Nuc lear Science 48: 100-105, 2001
• 5) Sato G, Takahashi T, Sugiho M et al.: Characterization of Cdte/Cdznte dete ctors. IEEE Transaction Nuclear Sc i ence 48: 1-7, 2001

Terms in the title (5)： 高分解能 ,  CdTe ,  検出器 ,  診断 ,  X線スペクトル