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J-GLOBAL ID：200902242932949682   Reference number：07A0915218

X-ray diffraction measurements for liquid Ge-Si alloys using synchrotron radiation

Ge-Si液体合金のシンクロトロン放射を用いたX線回折測定

Author (4)： NAITO Y. (Graduate School of Biosphere Sci., Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima 739-8521, JPN) ,  INUI M. (Graduate School of Integrated Arts and Sciences, Hiroshima Univ., Kagamiyama 1-7-1, Higashi-Hiroshima 739-8521, JPN) ,  ANAI T. (Fac. of Integrated Arts and Sciences, Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima 739-8521, JPN) ,  TAMURA K. (Graduate School of Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 606-8501, JPN)
Material： Journal of Non-Crystalline Solids  (J Non-Cryst Solid)
Volume： 353  Issue： 32-40  Page： 3376-3379  Publication year： Oct. 15, 2007 
JST Material Number： D0642A  ISSN： 0022-3093  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *germanium base alloy ,...

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JST classification (1)： Structure of liquid metals  (BK02020P)

Terms in the title (5)： Ge ,  Si ,  液体合金 ,  シンクロトロン放射 ,  X線回折