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J-GLOBAL ID：200902249522432687   Reference number：03A0117441

X-ray reflection from thin multilayers: Symmetric patterns.

多重薄膜からのX線反射 対称的パターン

Author (3)： KARIMOV P (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  HARADA S (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  KAWAI J (Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
Material： Surface and Interface Analysis  (SIA)
Volume： 35  Issue： 1  Page： 76-79  Publication year： Jan. 2003 
JST Material Number： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： ultrathin film ,...

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JST classification (2)： Other phsical analysis  (CC03014E) ,  Metallic thin films  (BK14030T)

Terms in the title (3)： 多重 ,  薄膜 ,  X線反射