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J-GLOBAL ID：200902254660561211   Reference number：09A1281040

STEM imaging of 47-pm-separated atomic columns by a spherical aberration-corrected electron microscope with a 300-kV cold field emission gun

300kV冷電界放射電子銃で球体収差を補正した電子顕微鏡による47-pm-分離の原子コラムのSTEMイメージ

Author (15)： SAWADA Hidetaka (JST-CREST, Tokyo) ,  SAWADA Hidetaka (JEOL Ltd, Tokyo) ,  TANISHIRO Yasumasa (JST-CREST, Tokyo) ,  TANISHIRO Yasumasa (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  OHASHI Nobuhiro (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  TOMITA Takeshi (JST-CREST, Tokyo) ,  TOMITA Takeshi (JEOL Ltd, Tokyo) ,  HOSOKAWA Fumio (JST-CREST, Tokyo) ,  HOSOKAWA Fumio (JEOL Ltd, Tokyo) ,  KANEYAMA Toshikatsu (JST-CREST, Tokyo) ,  KANEYAMA Toshikatsu (JEOL Ltd, Tokyo) ,  KONDO Yukihito (JST-CREST, Tokyo) ,  KONDO Yukihito (JEOL Ltd, Tokyo) ,  TAKAYANAGI Kunio (JST-CREST, Tokyo) ,  TAKAYANAGI Kunio (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
Material： Journal of Electron Microscopy  (J Electron Microsc)
Volume： 58  Issue： 6  Page： 357-361  Publication year： Dec. 2009 
JST Material Number： W1384A  ISSN： 0022-0744  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： dumbbell ,  *resolving power ,  *electron microscope ,  electron gun ,  *scanning transmisson electron microscope ,  *transmission electron microscope ,  *aberration correction ,  *germanium ,  X-ray diffraction ,  visual field ,  atom ,  image
Semi thesaurus term： *STEM ,  *TEM (microscope) ,  image ,  dumbbell ,  dark field ,  *resolution ,  Wide Angle X-Ray Diffraction

JST classification (1)： Electron and ion microscopes  (BD02050B)

Terms in the title (8)： 電子銃 ,  球体 ,  収差 ,  電子顕微鏡 ,  原子 ,  コラム ,  STEM ,  イメージ