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J-GLOBAL ID：200902258370419590   Reference number：08A1077540

A time-of-flight secondary ion mass spectroscopy study of 1-ethyl-3-methylimidazolium bis(trifluoromethylsulfonyl)imide RT-ionic liquid

1-エチル-3-メチルイミダゾリウムビス(トリフルオロメチルスルホニル)イミドRT(室温)イオン液体の飛行時間二次イオン質量分析研究

Author (4)： GUENSTER Jens (International Center for Young Scientists, National Inst. for Materials Sci., 1-1 Namiki, Tsukuba, Ibaraki 305-0044, JPN) ,  HOEFFT Oliver (Inst. fuer Metallurgie, Technische Universitaet Clausthal, Robert-Koch-Strasse 42, D-38678 Clausthal-Zellerfeld, DEU) ,  KRISCHOK Stefan (Inst. fuer Physik und Inst. fuer Mikro- und Nanotechnologien der TU Ilmenau, P.O. Box 100565, D-98684 Ilmenau, DEU) ,  SOUDA Ryutaro (Nanoscale Materials Center, National Inst. for Materials Sci., 1-1 Namiki, Tsukuba, Ibaraki 305-0044, JPN)
Material： Surface Science  (Surface Science Letters)
Volume： 602  Issue： 21  Page： 3403-3407  Publication year： Nov. 01, 2008 
JST Material Number： C0129B  ISSN： 0039-6028  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *secondary ion mass spectrometry ,  *ionic liquid ,  surface structure ,  structural phase transition ,  ionic strength ,  steric effect ,  lamellar structure ,  *room temperature ionic liquid ,  *TOF-SIMS ,  structure
Semi thesaurus term： lamellar structure ,  *Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

JST classification (3)： Molten salts  (CB05050R) ,  Mass spectra of molecules  (BH06100V) ,  Physical analysis of organic compounds  (CC03034A)

Substance index (2)： 1-Ethyl-3-methylimidazolium ,  Bis(trifluoromethanesulfon)imide

Terms in the title (8)： 1-エチル-3-メチルイミダゾリウム ,  ビス ,  イミド ,  RT ,  室温 ,  イオン液体 ,  飛行時間二次イオン質量分析 ,  研究