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J-GLOBAL ID：200902259491488528   Reference number：03A0701042

THERMOELASTIC ANALYSIS OF INTERFACIAL STRESS AND STRESS SINGULARITY BETWEEN A THIN FILM AND ITS SUBSTRATE

薄膜と基盤の間の界面応力と特異性の熱弾性解析

Author (2)： TAKAHASHI M (Akita Univ., Akita, JPN) ,  SHIBUYA Y (Akita Univ., Akita, JPN)
Material： Journal of Thermal Stresses  (J Therm Stresses)
Volume： 26  Issue： 10  Page： 963-976  Publication year： Oct. 2003 
JST Material Number： A0101B  ISSN： 0149-5739  CODEN： JTSTDA  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： thin film ,...

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JST classification (1)： Structural mechanics in general  (HD01000X)

Terms in the title (5)： 薄膜 ,  基盤 ,  界面応力 ,  特異性 ,  熱弾性解析