Art

J-GLOBAL ID：200902268917745913   Reference number：04A0873347

Three-Dimensional Trace Element Analysis by Confocal X-ray Microfluorescence Imaging

共焦点マイクロ蛍光X線イメージングによる痕跡量元素の三次元分析

Author (8)： VINCZE L (Univ. Antwerp, Wilrijk, BEL) ,  VEKEMANS B (Univ. Antwerp, Wilrijk, BEL) ,  BRENKER F E (Univ. Cologne, Cologne, DEU) ,  FALKENBERG G (Hamburger Synchrotronstrahlungenslabor at Deutsches Elektronen-Synchrotron, Hamburg, DEU) ,  RICKERS K (Hamburger Synchrotronstrahlungenslabor at Deutsches Elektronen-Synchrotron, Hamburg, DEU) ,  SOMOGYI A (ID22, ESRF, Grenoble, FRA) ,  KERSTEN M (Univ. Mainz, Mainz, DEU) ,  ADAMS F (Univ. Antwerp, Wilrijk, BEL)
Material： Analytical Chemistry  (Anal Chem)
Volume： 76  Issue： 22  Page： 6786-6791  Publication year： Nov. 15, 2004 
JST Material Number： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *X-ray fluorescence analysis ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=04A0873347&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=A0395A") }}

JST classification (1)： Physical analysis of elements in inorganic substances  (CC03022H)

Terms in the title (6)： 共焦点 ,  蛍光X線 ,  イメージング ,  痕跡 ,  元素 ,  分析