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J-GLOBAL ID：200902271544182906   Reference number：06A0390183

Precise measurement of local strain fields with energy-unfiltered convergent-beam electron diffraction

エネルギーフィルタリングしない集束ビーム電子線回折による局所的歪み場の精密測定

Author (5)： YAMAZAKI Takashi (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  ISAKA Tomoko (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  KURAMOCHI Koji (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  HASHIMOTO Iwao (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  WATANABE Kazuto (Tokyo Metropolitan Coll. Industrial Technol., Tokyo, JPN)
Material： Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography  (Acta Crystallographica. Section A. Fundamentls of Crystallography)
Volume： 62  Issue： 3  Page： 201-207  Publication year： May. 2006 
JST Material Number： A0315B  ISSN： 0108-7673  CODEN： ACACEQ  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *electron diffraction ,...
Semi thesaurus term： electron beam diffraction

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JST classification (1)： Surface structure of semiconductors  (BK15030A)

Terms in the title (7)： エネルギー ,  フィルタリング ,  集束 ,  ビーム ,  電子線回折 ,  歪み場 ,  精密測定