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J-GLOBAL ID：200902285406875560   Reference number：06A0447526

1 A-resolution chemical imaging by phase contrast technique

位相コントラスト技法による1Å解像度化学撮像

Author (5)： IWAMOTO C. (Dep. of Mechanical Engineering and Materials Sci., Kumamoto Univ., 39-1 Kurokami 2-chome, Kumamoto 860-8555, JPN) ,  STATONAKA S. (Dep. of Mechanical Engineering and Materials Sci., Kumamoto Univ., 39-1 Kurokami 2-chome, Kumamoto 860-8555, JPN) ,  YAMAMOTO T. (Engineering Res. Inst., School of Engineering, Univ. of Tokyo, 2-11-16 Yayoi, Bunkyo-ku, Tokyo 113-8656, JPN) ,  IKUHARA Y. (Engineering Res. Inst., School of Engineering, Univ. of Tokyo, 2-11-16 Yayoi, Bunkyo-ku, Tokyo 113-8656, JPN) ,  MATSUHATA H. (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST) Central 2, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, JPN)
Material： Journal of Applied Physics  (Journal of General Physics and its Application to Other Sciences and to Industry)
Volume： 99  Issue： 10  Page： 104909-104909-6  Publication year： May. 15, 2006 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *gallium nitride ,...
Semi thesaurus term： 化学撮像 ,...

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JST classification (2)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Semiconductor thin films  (BK14040E)

Terms in the title (5)： 位相コントラスト ,  技法 ,  解像度 ,  化学 ,  撮像