Art

J-GLOBAL ID：200902288803346785   Reference number：08A0790886

Direct Confirmation of the High Coherency of the Electron Beam from a Nanotip

ナノチップからの電子ビームの高コヒーレンシーの直接確認

Author (4)： ISHIKAWA Tsuyoshi (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  CHO Boklae (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  ROKUTA Eiji (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  OSHIMA Chuei (Waseda Univ., Tokyo, JPN)
Material： Applied Physics Express  (APEX)
Volume： 1  Issue： 7  Page： 077001.1-077001.3  Publication year： Jul. 25, 2008 
JST Material Number： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *field emission ,  edge ,  *electron beam ,  *coherence ,  prism ,  Tungsten ,  interference fringe ,  nanochip
Semi thesaurus term： バイプリズム

JST classification (1)： Electron and ion microscopes  (BD02050B)

Reference (14)：

• FINK, H.-W. IBM J. Res. Dev. 1986, 30, 460
• BINH, V. T. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 2527
• NAGAOKA, K. Appl. Surf. Sci. 2001, 182, 12
• FU, T.-Y. Phys. Rev. B. 2001, 64, 113401
• ISHIKAWA, T. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 143120

Terms in the title (3)： ナノチップ ,  電子ビーム ,  コヒーレンシー