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J-GLOBAL ID：200902290183551280   Reference number：07A0440392

X-ray diffraction reciprocal space mapping study of the thin film phase of pentacene

ペンタセンの薄膜相のX線回折逆空間マッピングによる研究

Author (3)： YOSHIDA Hiroyuki (Inst. for Chemical Res., Kyoto Univ., Uji, Kyoto 611-0011, JPN) ,  INABA Katsuhiko (X-ray Res. Lab., Rigaku Corp., 3-9-12 Matsubara-cho, Akishima, Tokyo 196-8666, JPN) ,  SATO Naoki (Inst. for Chemical Res., Kyoto Univ., Uji, Kyoto 611-0011, JPN)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 90  Issue： 18  Page： 181930-181930-3  Publication year： Apr. 30, 2007 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： triclinic system ,...

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JST classification (1)： Crystal structure of aromatic compounds  (BK08020F)

Substance index (1)： Pentacene

Terms in the title (5)： ペンタセン ,  薄膜 ,  X線回折 ,  空間マッピング ,  研究