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J-GLOBAL ID：200902296181273559   Reference number：05A0532899

Measuring Molecular Conductivities Using Single Molecular-Sized Gap Junctions Fabricated without Using Electron Beam Lithography

電子ビームリソグラフィーを利用しないで作製した単一分子サイズのギャップ接合を用いた分子伝導率の測定

Author (4)： NAITOH Yasuhisa (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  LIANG Tien-Tzu (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  AZEHARA Hiroaki (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  MIZUTANI Wataru (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters & Express Letters)
Volume： 44  Issue： 12-15  Page： L472-L474  Publication year： Apr. 10, 2005 
JST Material Number： F0599B  ISSN： 0021-4922  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *molecular device ,...
Semi thesaurus term： ギャップ接合

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JST classification (1)： Electric conduction in organic compounds  (BM03045F)

Substance index (1)： 1,4-Bis[4-(acetylthiomethyl)styryl]benzene

Reference (16)：

• 1) M. A. Reed, C. Zhou, C. J. Muller, T. P. Burgin and J. M. Tour: Science 278 (1997) 252.
• 2) H. Park, J. Park, A. Andrew, K. L. Lim, Erik H. Anderson, A. Paul Alivisatos and P. L. McEuren: Nature 407 (2000) 57.
• 3) J. Park, A. N. Pasupathy, J. I. Goldsmiths, C. Chang, Y. Yaish, J. R. Petta, M. Rinkoski, J. P. Sethna, H. D. Abrunas, P. L. McEuren and D. C. Ralph: Nature 417 (2002) 722.
• 4) W. Liang, M. P. Shores, M. Bockrath, J. R. Long and H. Park: Nature 417 (2002) 725.
• 5) S. Kubatkin, A. Danilov, M. Hjort, J. Cornil, J.-L. Bredas, N. Stuhr-Hansen, P. Hedegard and T. Bjornholm: Nature 425 (2003) 698.

Terms in the title (7)： 電子ビームリソグラフィー ,  作製 ,  単一分子 ,  サイズ ,  ギャップ接合 ,  分子 ,  伝導率