Pat

J-GLOBAL ID：200903000012029050

粒径測定方法及び粒径測定装置

Inventor： 宮村 和宏 ,  米澤 俵介 ,  大森 陽一 ,  池田 元英 ,  杉山 進 ,  大惠 克俊 ,  ソマワン クンプアン
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所 ,  学校法人立命館
Agent (2)： 西村 竜平 ,  佐藤 明子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007110697
Publication number (International publication number)：2008267969
Application date： Apr. 19, 2007
Publication date： Nov. 06, 2008
Summary：

【課題】短時間で、精度良く且つ容易に粒径を測定することである。【解決手段】測定対象粒子を含む試料液体に粒径既知の基準粒子21、22、23を混入する混入ステップと、前記混入ステップにより生成された混合液体を、毛細管現象を生じさせる連続的に変化する間隙に導入することにより、前記測定と、対象粒子及び前記基準粒子21、22、23をその粒径に応じて分級する分級ステップ前記測定対象粒子及び前記基準粒子21、22、23の分級結果から、前記測定対象粒子の粒径を測定する測定ステップと、を備える【選択図】図1

Claim (excerpt)：

測定対象粒子を含む試料液体に粒径既知の基準粒子を混入する混入ステップと、 前記混入ステップにより生成された混合液体を、毛細管現象を生じさせ、連続的に変化する間隙に導入することにより、前記測定対象粒子及び前記基準粒子をその粒径に応じて分級する分級ステップと、 前記測定対象粒子及び前記基準粒子の分級結果から、前記測定対象粒子の粒径を測定する測定ステップと、を備える粒径測定方法。

IPC (1)：

G01N 15/14

FI (2)：

G01N15/14 A ,  G01N15/14 K

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 粒径分布測定装置および粒径分布測定装置における感度校正方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-035288   Applicant：株式会社堀場製作所