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J-GLOBAL ID:200903000049523721

pn接合を有する薄膜結晶ウェーハとその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高野 昌俊
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002006618
Publication number (International publication number):2002289626
Application date: Jan. 15, 2002
Publication date: Oct. 04, 2002
Summary:
【要約】【課題】 Inx Aly Ga1-x-y P/GaAsヘテロ接合において比較的広範囲に接合界面のエネルギー不連続値を設定できるようにすること。【解決手段】 格子整合しているp型GaAs層6とn型Inx Aly Ga1-x-y P層8とのヘテロ接合の界面に、n型Inx Aly Ga1-x-y P層8とは組成の異なるInx Aly Ga1-x-y P層7を制御層として設け、ヘテロ接合におけるエネルギーバンドギャップ値を変更して電流増幅率β又はオフセット電圧Vbeの値を仕様に応じた値とすることができるようにした。
Claim (excerpt):
pn接合を有する薄膜結晶ウェーハにおいて、前記pn接合が格子整合しているp型GaAsの第1結晶層とn型Inx Aly Ga1-x-y Pの第2結晶層とのヘテロ接合であり、該ヘテロ接合の界面に前記第2結晶層のn型Inx Aly Ga1-x-y Pとは組成の異なるInx Aly Ga1-x-y Pの薄膜層を設けたことを特徴とするpn接合を有する薄膜結晶ウェーハ。
IPC (2):
H01L 21/331 ,  H01L 29/737
F-Term (5):
5F003AP09 ,  5F003BE01 ,  5F003BE04 ,  5F003BF06 ,  5F003BP31
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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