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J-GLOBAL ID:200903000087993260
放射線測定システム及び方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
吉田 研二 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000019152
Publication number (International publication number):2001208848
Application date: Jan. 27, 2000
Publication date: Aug. 03, 2001
Summary:
【要約】【課題】 地理上における実測位置の実測値から補間位置の推定値を演算し、線量率分布を作成する。【解決手段】 S101では、地理上における複数の実測位置において線量率が求められ、それらが実測値とされる。これとあわせて各実測位置の位置データも取得される。S102では、それらの実測値が存在しない補間位置について線量率の推定値が推定される。この場合においては、空間統計学的な地理統計データ解析手法が利用される。S103では、線量率の分布マップが作成され、S104ではそれが表示される。
Claim (excerpt):
地理上の複数の実測位置において放射線の線量率測定を行って実測値を求める測定手段と、前記複数の実測位置についての実測値に基づいて、地理上の複数の補間位置について線量率の推定値を推定する推定手段と、前記複数の実測位置についての実測値と前記複数の補間位置についての推定値とに基づいて、地理上における線量率分布を形成する形成手段と、を含むことを特徴とする放射線測定システム。
IPC (4):
G01T 1/16
, G01T 1/00
, G09B 29/00
, G01S 5/14
FI (4):
G01T 1/16 A
, G01T 1/00 D
, G09B 29/00 Z
, G01S 5/14
F-Term (20):
2C032HB22
, 2C032HC26
, 2G088AA06
, 2G088EE10
, 2G088EE11
, 2G088FF17
, 2G088KK20
, 2G088KK24
, 2G088KK27
, 2G088KK32
, 2G088KK35
, 2G088LL13
, 2G088MM02
, 2G088MM04
, 5J062CC07
, 5J062HH05
, 9A001GG14
, 9A001GZ05
, 9A001JJ11
, 9A001JJ72
Patent cited by the Patent:
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