画像処理装置、CTスキャナ及びフラクタル次元測定方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：服部毅巖
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998172389
Publication number (International publication number)：2000011146
Application date： Jun. 19, 1998
Publication date： Jan. 14, 2000
Summary：

【要約】【課題】フラクタル次元を高速に測定して、画像処理を行う。【解決手段】画像変換手段1は、多値画像Iを2値画像Iaに変換する。抽出画像生成手段2は、2値画像Iaから抽出画像Ibを生成する。解像度変換画像生成手段3は、抽出画像Ibに解像度を設定し、複数の解像度変換画像を生成する。輝度値設定手段4は、下位の階層の解像度変換画像を構成する隣接画素のうち、一つでも高輝度値があれば、対応する上位の階層の解像度変換画像の輝度値を高輝度値とし、隣接画素がすべて低輝度値の場合は対応する輝度値を低輝度値とする。高輝度画素数計算手段5は、高輝度画素数を解像度変換画像毎にそれぞれ計算する。フラクタル次元測定手段6は、高輝度画素数をプロットして生成したグラフの傾きを、フラクタル次元として求める。フラクタル次元画像表示手段7は、フラクタル次元の画像を表示する。

Claim (excerpt)：

フラクタル次元を測定して画像処理を行う画像処理装置において、多値画像に対し、設定したしきい値以上の輝度値を高輝度値、前記しきい値以下の輝度値を低輝度値として、2値画像に変換する画像変換手段と、前記2値画像から一定領域の画像を抽出して抽出画像を生成する抽出画像生成手段と、前記抽出画像に解像度を設定し、前記解像度を階層的に変えて複数の解像度変換画像を生成する解像度変換画像生成手段と、下位の階層の前記解像度変換画像を構成する隣接画素のうち、一つでも前記高輝度値があれば、前記隣接画素に対応する上位の階層の前記解像度変換画像の画素の輝度値を前記高輝度値とし、前記隣接画素がすべて低輝度値の場合は対応する画素の輝度値を前記低輝度値とする輝度値設定手段と、前記高輝度値を持つ画素数の総和である高輝度画素数を前記解像度変換画像毎にそれぞれ計算する高輝度画素数計算手段と、前記解像度及び前記高輝度画素数の座標軸上に、前記高輝度画素数をプロットして生成したグラフの傾きを求め、前記傾きを前記フラクタル次元として前記2値画像全体の各画素にわたって測定するフラクタル次元測定手段と、前記フラクタル次元の画像を表示するフラクタル次元画像表示手段と、を有することを特徴とする画像処理装置。

IPC (3)：

G06T 1/00 , A61B 6/03 360 , G06T 7/00

FI (3)：

G06F 15/62 390 B , A61B 6/03 360 B , G06F 15/70 320

F-Term (25)：

4C093AA22 , 4C093FD09 , 4C093FD20 , 4C093FF15 , 4C093FF19 , 5B057AA09 , 5B057BA03 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CB06 , 5B057CB12 , 5B057CF10 , 5B057DA12 , 5B057DA16 , 5L096AA07 , 5L096BA06 , 5L096BA13 , 5L096CA27 , 5L096DA04 , 5L096EA43 , 5L096FA23 , 5L096FA42 , 5L096FA70 , 5L096GA32 , 5L096JA28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

画像の属性判定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-196807 Applicant：沖電気工業株式会社
特開平4-170685
特開平2-307053

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