半導体集積回路、記憶制御装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (5)：一色健輔 , 原島典孝 , 黒川恵 , 吉田浩二 , 青木康
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002338711
Publication number (International publication number)：2004173119
Application date： Nov. 22, 2002
Publication date： Jun. 17, 2004
Summary：

【課題】データ転送回路の回路規模の増大化を抑えつつ、データ転送量を大きくすることのできる半導体集積回路の提供。【解決手段】データ信号が入力される第1の素子24aと、前記データ信号に対応する検証コードが入力される第2の素子24bと、前記第1の素子の動作を制御する第1の制御回路と、前記第2の素子の動作を制御する第2の制御回路と、前記第1の素子によって制御された前記データ信号と前記第2の素子によって制御された前記検証コードとを対照した結果を出力する出力回路22と、を有する半導体集積回路。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

データ信号が入力される第1の素子と、前記データ信号に対応する検証コードが入力される第2の素子と、前記第1の素子の動作を制御する第1の制御回路と、前記第2の素子の動作を制御する第2の制御回路と、前記第1の素子によって制御された前記データ信号と、前記第2の素子によって制御された前記検証コードと、を対照した結果を出力する出力回路と、を有することを特徴とする半導体集積回路。

IPC (2)：

H04L1/00 , H03M13/05

FI (2)：

H04L1/00 A , H03M13/05

F-Term (15)：

5J065AA01 , 5J065AB01 , 5J065AC03 , 5J065AD01 , 5J065AD11 , 5J065AE01 , 5J065AE06 , 5J065AF02 , 5J065AG04 , 5J065AH01 , 5J065AH09 , 5J065AH17 , 5K014AA01 , 5K014BA02 , 5K014FA09

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

データ転送回路及び故障検出方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-000644 Applicant：株式会社日立製作所

Cited by examiner (5)

データ転送回路及び故障検出方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-000644 Applicant：株式会社日立製作所
情報処理装置における障害処理方法及び記憶制御装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-357254 Applicant：株式会社日立製作所, 日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
デ-タ圧縮システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-000051 Applicant：インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション

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