電磁波検出装置および検出方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：福井國敞 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001051715
Publication number (International publication number)：2002257629
Application date： Feb. 27, 2001
Publication date： Sep. 11, 2002
Summary：

【要約】【課題】本発明は電磁波検出装置と検出方法に関し,テラヘルツ電磁の周波数スペクトル,波形を正確に測定することを目的とする。【解決手段】パルス光発生手段と,電磁波の照射と該パルス光の照射により該電磁波を検出する検出手段を備え,該パルス光を照射して電磁波を検出する電磁波検出装置において,該パルス光と検出対象の電磁波を検出手段に対して同じ側から照射する構成をもつ。

Claim (excerpt)：

パルス光発生手段と,電磁波の照射と該パルス光の照射により該電磁波を検出する検出手段を備え,該パルス光を照射して電磁波を検出する電磁波検出装置において,該パルス光と検出対象の電磁波を検出手段に対して同じ側から照射することを特徴とする電磁波検出装置。

IPC (4)：

G01J 3/28 , G01J 11/00 , G01N 21/35 , G01R 29/08

FI (4)：

G01J 3/28 , G01J 11/00 , G01N 21/35 Z , G01R 29/08 F

F-Term (35)：

2G020AA03 , 2G020CA14 , 2G020CB23 , 2G020CB42 , 2G020CC22 , 2G020CD04 , 2G020CD24 , 2G020CD35 , 2G059AA05 , 2G059EE12 , 2G059FF04 , 2G059GG01 , 2G059GG08 , 2G059HH01 , 2G059HH06 , 2G059JJ11 , 2G059JJ14 , 2G059JJ22 , 2G059JJ24 , 2G059LL02 , 2G059MM01 , 2G059MM08 , 2G065AA12 , 2G065AB02 , 2G065AB09 , 2G065AB14 , 2G065BA02 , 2G065BA14 , 2G065BB14 , 2G065BB37 , 2G065BC04 , 2G065BC13 , 2G065BC15 , 2G065BC22 , 2G065DA08

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

光学的サンプラモジュールを使用したサンプリング波形測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-311949 Applicant：株式会社アドバンテスト
テラヘルツ画像形成のための方法及び装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2000-601407 Applicant：テラプロウブリミテッド

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