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J-GLOBAL ID:200903000571714944
ワーク形状測定装置及び該装置を用いた形状測定システム
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
丹羽 宏之
, 野口 忠夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002279135
Publication number (International publication number):2004114203
Application date: Sep. 25, 2002
Publication date: Apr. 15, 2004
Summary:
【課題】簡単に着脱可能であり、NC加工機の主軸と座標軸Zとを同一軸心上にセット出来、且つ操作が簡便であり、他物の干渉を回避でき、構造簡単・高精度・高信頼性を有するワーク形状測定装置及び該形状測定システムの提供。【解決手段】ワーク形状測定装置200本体を前記NC加工機のXY方向位置検出装置100を有する主軸部01の軸心上に係合して着脱可能に設け、前記ワーク形状測定装置200は、X-Y軸からなる二次元座標面に平行に旋回位置決め調節可能なXY方向位置決め調節機構201と、前記軸心上の上方所定位置の仮想支点Pを中心に円弧状ガイド面202aに沿って所望角度可傾回動自在の走査光照射角調節機構202と、走査光Leを照射・受光してワークの変位量を測定可能な走査光照射・受光手段203とから成ることを特徴とする。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
NC加工機上で操作自在な非接触式のワーク形状測定装置であって、ワーク形状測定装置本体を前記NC加工機のXY方向位置検出装置を有する主軸部の軸心上に係合して着脱可能に設け、前記ワーク形状測定装置は、X-Y軸からなる二次元座標面に平行に旋回位置決め調節可能なXY方向位置決め調節機構と、前記軸心上の上方所定位置の仮想支点を中心に円弧状ガイド面に沿って所望角度可傾回動自在の走査光照射角調節機構と、走査光を照射・受光してワークの変位量を測定可能な走査光照射・受光手段とから成ることを特徴とするワーク形状測定装置。
IPC (2):
FI (2):
B23Q17/24 C
, G01B11/24 A
F-Term (9):
2F065AA53
, 2F065FF01
, 2F065FF44
, 2F065GG04
, 2F065MM06
, 2F065QQ31
, 2F065UU03
, 3C029AA01
, 3C029AA40
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
-
物品の表面形状測定装置における測定ヘッドの追従方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-132837
Applicant:本田技研工業株式会社
-
非接触三次元測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-161098
Applicant:株式会社ミツトヨ
-
大型超精密非球面の加工測定装置及び方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-192332
Applicant:理化学研究所
Cited by examiner (3)
-
物品の表面形状測定装置における測定ヘッドの追従方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-132837
Applicant:本田技研工業株式会社
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非接触三次元測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-161098
Applicant:株式会社ミツトヨ
-
大型超精密非球面の加工測定装置及び方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-192332
Applicant:理化学研究所
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