環状試料磁気特性測定装置および環状試料磁気特性測定方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：中島司朗
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005337460
Publication number (International publication number)：2007139717
Application date： Nov. 22, 2005
Publication date： Jun. 07, 2007
Summary：

【課題】実際の使用形状に則した環状の試料を測定の対象とする場合にあっても、測定の都度その準備に長時間を費やす必要がなく、且つ、正確な磁気特性の測定が可能な環状試料磁気特性測定装置および環状試料磁気特性測定方法を提供する。【解決手段】磁気特性測定装置は、環状の測定対象物が周方向に分割されてなる複数の試料片の各々をスライドにより収納する複数の試料収納部と、測定対象物に相当する閉磁路を形成するために、試料収納部に収納される複数の試料片の各間を磁気的に接続する接続部と、試料収納部の各々の外周に巻回形成されてなり、閉磁路を形成する複数の試料片を励磁する励磁コイルおよび閉磁路の励磁磁束を検出するための検出コイルとを有する構成となっている。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

環状の測定対象物が分割されてなる複数の弧状試料片の各々を、前記周方向にスライド収納する複数の試料収納部と、前記測定対象物に相当する閉磁路を形成するために、前記試料収納部に収納される複数の弧状試料片の各間を磁気的に接続する接続部と、前記試料収納部の各々の外周に巻回形成されてなり、前記閉磁路を形成する複数の弧状試料片を励磁する励磁コイル、および、前記閉磁路の励磁磁束を検出するための検出コイルとを有することを特徴とする環状試料磁気特性測定装置。

IPC (1)：

G01R 33/12

FI (1)：

G01R33/12 Z

F-Term (5)：

2G017AD04 , 2G017BA03 , 2G017CB16 , 2G017CB21 , 2G017CB23

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

磁気特性の測定装置及びその測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-113486 Applicant：新日本製鐵株式会社

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