Pat
J-GLOBAL ID：200903000636772254
放射線測定装置
Inventor：
,
,
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
菊池 治
, 大胡 典夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007310975
Publication number (International publication number)：2009133759
Application date： Nov. 30, 2007
Publication date： Jun. 18, 2009
Summary：
【課題】γ線環境又は人が近づけない環境において、α線及びβ線を測定することのできる放射線測定装置を提供する。【解決手段】放射線測定装置は、α線が透過する遮光膜4と、透過したα線により発光するα線シンチレータ1と、α線シンチレータの発光を伝送する光ファイバ80と、α線シンチレータ1と光ファイバ80の一端との間に介在し発光を集光する集光手段2と、α線シンチレータ1、集光手段2及び光ファイバ80の端面を雰囲気環境から遮光する遮光箱9と、光ファイバ80の他端に接続され伝送された発光を光電変換して検出する光電子増倍手段10と、検出された検出信号を増幅する増幅手段14,15と、増幅された検出信号の波高を分析する波高分析手段16,17と、波高分析されたα線による信号をノイズと区別するデータ処理手段18と、を有する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
α線が透過する遮光膜と、
この透過したα線により発光するα線シンチレータと、
このα線シンチレータの発光を伝送する光ファイバと、
前記α線シンチレータとこの光ファイバの一端との間に介在し前記発光を集光する集光手段と、
前記α線シンチレータ、前記集光手段及び前記光ファイバの端面を雰囲気環境から遮光する遮光箱と、
前記光ファイバの他端に接続され伝送された発光を光電変換して検出する光電子増倍手段と、
この光電子増倍手段で検出された検出信号を増幅する増幅手段と、
この増幅手段で増幅された検出信号の波高を分析する波高分析手段と、
この波高分析されたα線による信号をノイズと区別するデータ処理手段と、
を有することを特徴とする放射線測定装置。
IPC (1)：
FI (3)：
G01T1/20 A
, G01T1/20 C
, G01T1/20 D
2G088AA01
, 2G088EE11
, 2G088EE17
, 2G088FF04
, 2G088FF05
, 2G088FF06
, 2G088FF15
, 2G088GG10
, 2G088GG13
, 2G088GG14
, 2G088GG15
, 2G088GG16
, 2G088GG18
, 2G088JJ05
, 2G088JJ09
, 2G088JJ23
, 2G088KK01
, 2G088KK28
, 2G088KK29
, 2G088LL11
