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J-GLOBAL ID：200903000927073647

部分相補性核酸断片の検出方法

Inventor：
牧野 快彦

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阿部 義彦

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小川 雅司

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高木 誠

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竹中 繁織

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山下 健一

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Applicant, Patent owner：
富士写真フイルム株式会社

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Agent (1)： 柳川 泰男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000166384
Publication number (International publication number)：2001116721
Application date： Jun. 02, 2000
Publication date： Apr. 27, 2001
Summary：
【要約】【課題】 一本鎖の正常遺伝子断片と一本鎖の異常遺伝子断片とで形成される遺伝子多型を検出するために有用な、部分相補性核酸断片を検出する方法を提供すること。【解決手段】 (1)導電性基板の表面にDNA断片がその一端で固定されてなるDNA分析素子に、試料核酸断片が溶解あるいは分散してなる試料液を接触させ、電気化学活性縫い込み型インターカレータの存在下にて、該分析素子に電位を印加することにより、該インターカレータと該分析素子との間を流れる電流値を測定する操作を含む工程;(2)工程(1)で測定された電流値を、上記のDNA分析素子に固定されているDNA断片に相補性を有する核酸断片を用い、上記(1)の操作と同じ操作によって得られる相補性核酸断片の標準電流値と照合する工程を含むことを特徴とする、工程(1)で用いた試料核酸断片が、上記相補性核酸断片と塩基配列に関して部分的に同一なものであるか否かを検出する方法。
Claim (excerpt)：
(1)導電性基板の表面にDNA断片がその一端で固定されてなるDNA分析素子に、試料核酸断片が溶解あるいは分散してなる試料液を接触させ、電気化学活性縫い込み型インターカレータの存在下にて、該分析素子に電位を印加することにより、該インターカレータと該分析素子との間を流れる電流値を測定する操作を含む工程、そして(2)上記の工程(1)で測定された電流値を、上記のDNA分析素子に固定されているDNA断片に相補性を有する核酸断片を用い、上記(1)の操作と同じ操作によって得られる相補性核酸断片の標準電流値と照合する工程を含むことを特徴とする、工程(1)で用いた試料核酸断片が、上記相補性核酸断片と塩基配列に関して部分的に同一なものであるか否かを検出する方法。
IPC (9)：
G01N 27/416 ,  C12N 15/09 ZNA ,  C12Q 1/68 ,  G01N 27/327 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/566 ,  G01N 33/58 ,  C12M 1/00 ,  C12M 1/34
FI (9)：
C12Q 1/68 A ,  G01N 33/53 M ,  G01N 33/566 ,  G01N 33/58 A ,  C12M 1/00 A ,  C12M 1/34 Z ,  G01N 27/46 336 M ,  C12N 15/00 ZNA A ,  G01N 27/30 351
F-Term (30)：
2G045AA35 ,  2G045AA40 ,  2G045DA12 ,  2G045DA13 ,  2G045FB02 ,  2G045FB05 ,  2G045GC20 ,  4B024AA11 ,  4B024AA20 ,  4B024CA01 ,  4B024HA11 ,  4B029AA07 ,  4B029AA08 ,  4B029AA23 ,  4B029BB20 ,  4B029CC01 ,  4B029CC03 ,  4B029CC08 ,  4B029FA03 ,  4B029GA03 ,  4B063QA01 ,  4B063QA12 ,  4B063QA17 ,  4B063QQ42 ,  4B063QR32 ,  4B063QR55 ,  4B063QR84 ,  4B063QS20 ,  4B063QS34 ,  4B063QX05
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (9)
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