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J-GLOBAL ID：200903000963229637

試料分析装置

Inventor：
元津 和典

About 元津 和典


Applicant, Patent owner：
シスメックス株式会社

About シスメックス株式会社


Agent (1)： 野河 信太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002372884
Publication number (International publication number)：2004205292
Application date： Dec. 24, 2002
Publication date： Jul. 22, 2004
Summary：
【課題】測定ユニットとポンプとの接続を簡略化し、かつ、測定ユニットの試料によってポンプが汚染されることを防止する。【解決手段】試料を流す試料流路を有する測定ユニットを着脱可能に搭載し、一端が試料流路に接続される第1流路を備えた流体基板と、一端が第1流路の他端に接続される第2流路を備えたポンプ設置部材と、ポンプ設置部材に設置され第2流路の他端に接続されるポンプと、試料流路へ圧力が供給されて測定ユニット内で試料が移送されるようにポンプを制御する制御部と、測定ユニット内で移送される試料の特性を測定する測定部と、測定結果から試料を分析する分析部を備える。【選択図】 図19
Claim (excerpt)：
試料を流す試料流路を有する測定ユニットを着脱可能に搭載し、一端が試料流路に接続される第1流路を備えた流体基板と、一端が第1流路の他端に着脱可能に接続される第2流路を備えたポンプ設置部材と、ポンプ設置部材に設置され第2流路の他端に接続されるポンプと、試料流路へ圧力が供給されて測定ユニット内で試料が移送されるようにポンプを制御する制御部と、測定ユニット内で移送される試料の特性を測定する測定部を備える試料分析装置。
IPC (4)：
G01N35/02 ,  G01N1/00 ,  G01N35/08 ,  G01N35/10
FI (5)：
G01N35/02 F ,  G01N1/00 101L ,  G01N1/00 101M ,  G01N35/08 A ,  G01N35/06 B
F-Term (23)：
2G052AA30 ,  2G052AD46 ,  2G052CA04 ,  2G052CA35 ,  2G052CA38 ,  2G052DA09 ,  2G052FD01 ,  2G052GA12 ,  2G052GA23 ,  2G052JA08 ,  2G058BA01 ,  2G058CC11 ,  2G058DA07 ,  2G058EB01 ,  2G058EC01 ,  2G058GA06 ,  2G058GA12 ,  2G058GC05 ,  2G060AA07 ,  2G060AE40 ,  2G060AF07 ,  2G060GA01 ,  2G060KA05
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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