画像処理方法およびその装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004079570
Publication number (International publication number)：2005265661
Application date： Mar. 19, 2004
Publication date： Sep. 29, 2005
Summary：

【課題】公差設定が客観的であり、安定した良否判定が得やすく、かつ安定した良否判定が継続可能である画像検査方法と、その画像処理方法を搭載した画像検査装置を提供する。【解決手段】複数の検査良品から取得された良品画像群において位置合わせを行った上、同一座標をもつ画素ごとに輝度の平均と標準偏差を算出しておく(S1〜S11)ことにより、被検査品から取得された画像において位置合わせを行った上、同一座標をもつ画素ごとに、その輝度を平均と標準偏差を用いて定義される評価式により評価することにより良否判定を行う(S12〜S17)。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

複数の検査良品から取得された良品画像群において、位置合わせを行った上、同一座標をもつ画素ごとに輝度の平均と標準偏差を算出しておくことにより、被検査品から取得された画像において位置合わせを行った上、同一座標をもつ画素ごとに、その輝度を平均と標準偏差を用いて定義される評価式により良否判定を行う画像処理方法。

IPC (1)：

G01N21/93

FI (1)：

G01N21/93

F-Term (4)：

2G051AC21 , 2G051CA04 , 2G051EC02 , 2G051EC03

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

画像処理方法及びその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-363628 Applicant：松下電工株式会社

Return to Previous Page