画像処理方法及びその装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：西川惠清 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999363628
Publication number (International publication number)：2001175865
Application date： Dec. 22, 1999
Publication date： Jun. 29, 2001
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】検査上の重要度に応じた差分処理が実行でき、正確に良/不良の判定が行える画像処理方法及びそのその装置を提供することにある。【解決手段】スタートしてプログラム格納用メモリ4に格納してあったプログラムが実行されるとCPU6は予め登録してある教示画像を、TVカメラ1で撮像した検査対象物の撮像画像に重ねて輝度差を計算する差分処理を行い、この差分処理に更に予め登録してある対象物の教示画像の各画素毎の重み(偏差データ)の値を乗じて差分値を再計算する。この再計算した値と閾値とを比較して検査対象物の良/不良を判断する。

Claim (excerpt)：

予め登録してある対象物の教示画像と検査対象物を撮像して得られた撮像画像との各画素間の輝度の差を計算する差分処理を行い、計算して得られる差分結果が予め設定されている差分閾値を超えた画素の総面積を出力する画像処理方法において、教示画像の各画素毎に重みを設定し、重要度の低い画素に対しては差分結果を差分閾値に等しくして当該画素の面積を、差分閾値を越えた画素の面積にカウントせず差分と認識しないようにすることを特徴とする画像処理方法。

FI (2)：

G06F 15/62 405 A , G06F 15/70 455 B

F-Term (16)：

5B057BA02 , 5B057CE11 , 5B057DA03 , 5B057DC33 , 5L096BA03 , 5L096CA02 , 5L096FA59 , 5L096GA08 , 5L096HA07 , 5L096JA09 , 9A001BB06 , 9A001EE05 , 9A001HH21 , 9A001HH23 , 9A001HH24 , 9A001KK16

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

印刷物検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-241911 Applicant：大日本印刷株式会社
パターンマッチング方法およびパターンマッチング装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-035725 Applicant：松下電工株式会社
文字等パターン照合方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-005337 Applicant：日立エンジニアリング株式会社

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