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J-GLOBAL ID:200903001188413511

離型フイルム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 前田 純博
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996141508
Publication number (International publication number):1997314782
Application date: Jun. 04, 1996
Publication date: Dec. 09, 1997
Summary:
【要約】【課題】 大型のTFT方式やSTN方式の偏光板、位相差偏光板または位相差板の目視検査による異物や欠陥の発見を容易にする離型フイルムを提供する。【解決手段】 ポリエステルフイルムの少なくとも片面に付加重合型シリコーン樹脂を主成分とする離型層を設けた離型フイルムであって、該ポリエステルフイルムが、リターデーション値(R)1200(nm)以上、マイクロ波透過型分子配向計で測定したMOR値1.3〜1.8の範囲、該MOR値の最小値と最大値の差0.2以下、面積310.8cm2 当り25μm以上の異物が0個、5μm以上25μm未満の異物が10個以下であって、かつ該シリコーン樹脂の赤外吸収スペクトルで認められる-CH3 による吸収ピーク高さ(Ha)と、-SiHによる吸収ピーク高さ(Hb)の比が、0≦Hb/Ha≦0.05である偏光板、位相差偏光板または位相差板の検査に用いる離型フイルム。
Claim (excerpt):
ポリエステルフイルムの少なくとも片面に付加重合型シリコーン樹脂を主成分とする離型層を設けた離型フイルムであって、該ポリエステルフイルムが、下記式(1)で定義されるリターデーション値(R)が1200(nm)以上であり、マイクロ波透過型分子配向計で測定したMOR値が1.3〜1.8の範囲であり、該MOR値の最小値と最大値の差が0.2以下であり、かつ一辺の長さ210mmとそれに直行する辺の長さ148mmの広さ(面積310.8cm2 )当りのフイルム中に25μm以上の異物が存在せず、5μm以上25μm未満の異物が10個以下であって、該シリコーン樹脂の赤外吸収スペクトルで認められる-CH3 による波数2800〜3000cm-1の吸収ピーク高さ(Ha)と、-SiHによる波数2100〜2300cm-1の吸収ピーク高さ(Hb)の比が下記式(2)を満足する偏光板、位相差偏光板または位相差板の検査に用いる離型フイルム。【数1】R=△n・d ......式(1)(但し、式(1)で、△nはフイルムの可視光(波長λ=589nm)でのフイルム幅方向の屈折率(nx)とその直角方向の屈折率(ny)との差(nx-ny)であり、dはフイルムの厚み(nm)である。)【数2】0≦Hb/Ha≦0.05 ......式(2)
IPC (3):
B32B 27/36 ,  B32B 7/02 ,  B32B 27/00
FI (3):
B32B 27/36 ,  B32B 7/02 ,  B32B 27/00 L
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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