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J-GLOBAL ID：200903001403637922

回路測定用端子およびその製造方法

Inventor： 寺崎 隆一 ,  照井 良典 ,  渡辺 徹 ,  奥村 勝弥
Applicant, Patent owner： 電気化学工業株式会社 ,  株式会社東芝
Agent (1)： 山下 穣平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992056358
Publication number (International publication number)：1993215774
Application date： Feb. 06, 1992
Publication date： Aug. 24, 1993
Summary：

【要約】【目的】 基体面と電気的に絶縁して針状結晶を形成する。【構成】 絶縁面上の所望の位置から成長された針状結晶3を用いた回路測定用端子。

Claim (excerpt)：

絶縁面上の所望の位置に成長された針状結晶を用いたことを特徴とする回路測定用端子。

IPC (2)：

G01R 1/073 ,  H01L 21/66

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 回路測定用端子およびその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-008373   Applicant：株式会社東芝, 電気化学工業株式会社
• 特開平2-016404
  
• 特開昭50-037350
  
• 特表昭63-502786
  
• 特開平3-209103